24 Мая 2017 года в г. Томске состоится семинар, посвященный JTAG-технологиям тестирования цифровых плат: «День периферийного сканирования»

17 мая 2017

JTAG-технологии тестирования все более замещают все остальные альтернативы. За JTAG-технологиями – будущее тестирования.


. Сегодня активно используются стандарты IEEE 1149.1 и IEEE 1149.6, на подходе – стандарт нового поколения: IEEE 1687. Знать, как применять данную технологию, необходимо всем разработчикам и производственникам: рано или поздно с ней столкнутся все.

Мы уделим особое внимание тому, как нужно разрабатывать изделия, чтобы быстро находить дефекты, а также какие мероприятия нужны для того, чтобы плата работала без сбоев.

Предлагаем предварительную  программу мероприятия:

Останавливаясь более подробно на последнем пункте программы, предлагаем вам увидеть на данном семинаре разбор тестового покрытия вашего изделия. Если вас заинтересовало данное предложение, то просьба связаться с нами по e-mail russia@jtag.com или телефону +7(812)313-91-59. Данным предложением можно воспользоваться до 1 мая.

Участие в семинаре бесплатное  по предварительной регистрации с отправленными именами участников, должностями, названием компании и контактными данными на e-mail russia@jtag.com с пометкой «день периферийного сканирования». Если при регистрации вы не получили подтверждения обратно на ваш e-mail в течение 2-х дней, просьба сообщить об этом по телефону +7(965)089-10-80.

Внимание: количество мест ограничено. Регистрация участников заканчивается 22 Мая.

Мероприятие пройдет в конференц-зале гостиницы «Бон Апарт» по адресу: г. Томск, ул. Герцена, 1А.


Источник: JTAG

Оставить комментарий