фото
В номере:
КОНТРОЛЬ И ТЕСТИРОВАНИЕ
 
Glenbrook Technologies. Выявление контрафактных электронных компонентов
Периферийное сканирование JTAG: тестирование опытных образцов электроники
Дон Миллер. Возможности и перспективы АОИ и рентгеновского контроля
Сергей Игнашкин. Инновационная технология трехмерной инспекции паяльной пасты PI
 
ТЕХНОЛОГИИ И МАТЕРИАЛЫ
 
Мартин Ансельм, Брайан Роггерман. Исследование хрупкости интерметаллических структур на платах с ENIG-покрытием
Кен Уиллис, Кумар Кешаван, Джек Лин, Тарик Абу-Джейаб. Влияние шума в цепях питания на мультигигабитные каналы связи на печатной плате
 

Мобильная версия (iPhone, iPad, iPod Touch, Android)

Скачать offline версию:   

Анонсы других номеров
2014:
№1
№2
№3
2013:
№1
№2
№3
№4
№5
№6
2012:
№8